WIĄZANIE RIDE C-4
C-4 to
uniwersalne wiązanie do jazdy w każdych warunkach. Od parku po
szczyt, to wiązanie Cię nie zawiedzie. Jednoczęściowy górny
Pasek One-Piece Ankle Strap dopasowuje się do kształtu buta i
zapewnia trwałość bez dodatkowego obciążenia. Baza serii C łączy
aluminiową piętkę z nylonową płytą. Aluminiowa piętka zapewnia
wyczucie i trwałość aluminium tam, gdzie jest to potrzebne, a
kompozytowa płyta zapewnia komfort i płynną jazdę. Specjalne
skośne pady wyrównują nasze stawy pod kątem 2,5 stopnia,
zapewniając jednocześnie większego POPa Twojej deski. C-4 zostały
zaprojektowane z myślą o jeździe freestyle all-mountain przy
ograniczonym budżecie.
ROZMIARY:
Medium 36,5-42EU
Large 40,5-46EU
FOOTBE: Canted
BASEPAD: C-Series Diecut
ŁYŻKA: Nylon Blend
STRAP GÓRNY: One-Piece Strap
STRAP DOLNY: Minimalist
POMPKI: Linkage Ratchet
DYSKI: Plastic Disc
FEEL/FLEX: 4
TECHNOLOGIE
KOMPOZYTOWA BAZA SERII C:
Baza serii C łączy w sobie
aluminiową piętkę z nylonową płytą. Kształt piętki zapewnia
doskonałą responsywność, a nylonowa płyta pod stopą zapewnia
wygodną i płynną jazdę.
CANTED FOOTBED:
Ultralekka wkładka, która
wykorzystuje subtelne kąty, aby ustawić kostki i kolana w bardziej
naturalnej i wygodnej pozycji. Kąt daje również siłę nacisku na
deskę, aby uzyskać ogromny pop, bez wpływu na preferowaną
pozycję.
ŁYŻKA NYLON HIGHBACK:
Tradycyjny materiał, który
zapewnia połączenie responsywności i komfortu.
STRAP GÓRNY ONE-PIECE ANKLE STRAP:
Zaprojektowany z myślą o komforcie
i trwałości. Pojedynczy materiałowy Pasek o specjalnej konstrukcji
zapewnia trwałość, wygodę i szybkość mocowania bez zbędnych
dodatków
STRAP DOLNY MINIMALIST TOE STRAP:
Zaprojektowany, aby zapewnić
maksymalną wydajność i trwałość przy minimalnej wadze
POMPKA LINKAGE:
Zaprojektowana, aby poprawić
trwałość zapięcia i wyeliminować luzy, zapewniając płynniejszą
obsługę przy takim samym trzymaniu stopy, jakiego oczekujesz.
PLASTIKOWY DYSK:
Plastikowy dysk zapewnią większą
elastyczność boczną niż aluminium dla ridera, który koncentruje
się na komforcie i wydajności.